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HighFinesse波长计，线宽分析仪，激光光谱分析仪
HighFinesse Wavelength Meter
准确，灵敏，紧凑，具有广泛光谱范围，可用于脉冲和连续激光的高速测量
高达76 kHz的测量速度
<200 kHz分辨率
2 MHz绝对精度
适用于192-11,000 nm的仪器
HighFinesse波长计是用于脉冲或连续激光源波长测量的高端仪器。它们为尖端科学研究以及工业和医学应用提供了所需的卓越的绝对和相对精度。
WS8系列具有卓越的精度，其绝对精度高达2 MHz，测量分辨率为200 kHz或更低，这是通过采用独特的几何结构的非移动Fizeau干涉仪实现的。所有HighFinesse波长计都依靠这一久经考验的概念。为了获得更高的稳定性和精度，可以补偿温度和压力的影响。 HighFinesse还提供相当快的市售波长表。点击这里查看更多信息。波长计的灵敏度可降低到nJ的大小，同时还有许多有用的选项可供选择，例如PID激光控制，它提供了一个有源反馈环路来控制激光波长。
|
Absolute Accuracy [MHz] |
Measurement Resolution [MHz] |
Speed [Hz] |
Wavelength Ranges [nm] |
Calibration |
WS8-2 |
2 |
0.2 |
500 |
330-1180 |
see SLR-series |
WS8-10 |
10 |
0.4 |
500 |
248-1750 |
see SLR-series |
WS7-30 |
30 |
1 |
500 |
248-2250 |
see SLR-series |
WS7-60 |
60 |
2 |
500 |
192-2250 |
built-in |
WS6-200 |
200 |
4 |
500, IR: 1500 |
192-11000 |
built-in |
WS6-600 |
600 |
20 |
950, IR: 1500 |
192-2250 |
built-in |
WS5 |
3000 |
500 |
950, IR: 1500 |
192-11000 |
built-in |
HighFinesse线宽分析仪
测量，分析和控制窄激光源的频率噪声和线形的多功能仪器
频率偏差时间轨迹的测量
频率噪声密度频谱
强度噪声频谱
激光线形光谱
HighFinesse线宽分析仪（LWA）是一款用途广泛，坚固耐用的紧凑型仪器，用于测量，分析和控制激光器的频率和强度噪声。这使它们成为实时精确表征激光的理想型设备。
通过将干涉测量工作原理与高端光学和电子组件相结合，可以实现出色的灵敏度。基于随时间变化的频率偏差的测量，可以计算出频率噪声密度谱，评估低至350 Hz的内部的（洛伦兹）线宽和有效（光学）线宽以及相对强度噪声（RIN）的光学线形。通过进一步分析，可以获取许多额外的量。LWA的无偏测量原理优于光学延迟线技术，因为由于技术固有的信息丢失，后者依赖于非平凡的评估需求。 LWA还允许使用PID控制来减少激光器的线宽。
LWA-1k产品系列是用于测量非常低线宽的仪器。 LWA-100k产品系列可在非常大的波长范围内进行精确的线宽测量。
LWA-1k Series
frequency noise density: 50 Hz – 10 MHz
optical & Lorentzian linewidth: 350 Hz – 20 MHz
narrowing linewidth PID control
based on frequency discriminator (interferometer) |
|
Wavelength range [nm] |
Noise floor [Hz/√Hz] |
Frequency Noise Bandwidth |
Intrinsic linewidth range |
Effective linewidth range |
LWA-1k 780 |
760 - 1064 |
25 - 500 |
10 Hz - 10 MHz |
< 8 kHz |
< 10 kHz - 20 MHz |
LWA-1k 1550 |
1530 - 1565 |
5 - 100 |
10 Hz - 10 MHz |
< 350 Hz |
< 1 kHz - 20 MHz |
LWA-100k Series
frequency noise density: 25 Hz – 10 MHz
optical & Lorentzian linewidth: 2 kHz – 20 MHz
narrowing linewidth PID control
based on frequency discriminator (interferometer) based on frequency discriminator (interferometer) |
|
Wavelength range [nm] |
Noise floor [Hz/√Hz] |
Frequency Noise Bandwidth |
Intrinsic linewidth range |
Effective linewidth range |
LWA-100k NIR |
1064 - 1625 |
25 - 1000 |
25 Hz - 10 MHz |
< 2 kHz |
< 10 kHz - 20 MHz |
HighFinesse激光光谱分析仪
紧凑而稳固的光谱仪，具有可完全自定义的范围和分辨率参数，能够以高测量速度测量脉冲和连续激光
高达500 Hz的测量速度
分辨力R = 20,000（31 pm @633 nm）
适用于192-11,000 nm的仪器
波长精度：6 GHz（8 pm @633 nm)
基于光栅的HighFinesse激光频谱分析仪是一款紧凑和通用的仪器，它具有非常精确的同时测量激光光源的中心波长和线宽的能力。
该产品系列涵盖了从192 nm到11,000 nm的范围。 基于光栅的技术可以分析较大线宽范围内的激光源。 LSA利用的是固定部件的原理，就像众所周知的HighFinesse WS系列波长计一样，具有经过时间考验的耐用性，并能够测量脉冲激光器和连续激光器。
LSA Series
pulsed & cw lasers:
non-moving parts
Remote network access
software integration |
|
Absolute Accuracy [GHz] |
Resolving Power [R = λ/Δλ] |
Spectral Resolution [Δλ = λ/R] |
Measurement Speed [Hz] |
Wavelength Ranges [nm] |
LSA |
6 |
20000 |
e.g. 31.65 pm @633 nm |
500 (Data Acquisition) |
192 - 2250 |
LSA IR-III Series
pulsed & cw lasers:
non-moving parts
Remote network access
software integration |
|
Absolute Accuracy [nm] |
Spectral Resolution [nm] |
Measurement Speed [Hz] |
Wavelength Ranges [μm] |
Calibration |
LSA IR-III Type 2-3 |
1 |
15 |
100 |
1.4 - 3 |
see IR-HeNe |
LSA IR-III Type 2-6 |
2 |
20 |
100 |
1.4 - 6 |
see IR-HeNe |
LSA IR-III Type 2-11 |
5 |
30 |
100 |
1.4 - 11 |
see IR-HeNe |
HighFinesse FAST 波长计系列
可实现高速测量的商用波长计，读出速率高达 76 kHz
分析快速波长动态
数据采集： 76 kHz
绝对精度：200 MHz
该仪表的测量范围为 380 至 1650 nm
我们的 WF6 系列以测量速度见长，是可实现高速测量的商用波长计。在 380 至 1050 nm 波长范围内读出速率高达 24 kHz，在 980 至 1650 nm 波长范围内的读出速率甚至高达 76 kHz。这些波长计可以精确地表征快速扫频激光源的特性。
FAST 波长计可以从外部触发，便于与其他进程同步测量波长。作为一个特殊的软件功能，该波长计具有便于分析快速波长动态的示波器模式。
FAST Wavemeter series |
Absolute Accuracy [nm] |
Measurement Resolution [MHz] |
Speed [Hz] |
Wavelength Ranges [μm] |
Calibration |
WF6-600 VIS |
600 |
20 |
24000 |
380-1050 |
see SLR-series |
WF6-200 VIS |
200 |
4 |
24000 |
600-1050 |
see SLR-series |
WF6-200 IR |
200 |
4 |
76000 |
980-1650 |
see SLR-series |
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线阵CCD光纤光谱仪
